Gate dielectric integrity : material process, and tool qualification:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Gupta, Dinesh C. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: West Conshohocken, Pa. ASTM 2000
Schriftenreihe:STP / ASTM 1382
Schlagworte:
Beschreibung:XI, 169 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0803126158

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!