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    Charakterisierung von epitaktisch auf InP abgeschiedenen GaxIn1-xAs-Schichten (0.45 x 0.49) mittels Photolumineszenz und Doppelkristall-Röntgendiffraktometrie

    Charakterisierung von epitaktisch auf InP abgeschiedenen GaxIn1-xAs-Schichten (0.45 x 0.49) mittels Photolumineszenz und Doppelkristall-Röntgendiffraktometrie von Goetz, Karl-Heinz 1954-

    Veröffentlicht 1984
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Charakterisierung von epitaktisch auf InP abgeschiedenen GaxIn1-xAs-Schichten 0.45 x 0.49 Gax-In-x-As-Schichten x mittels Photolumineszenz und Doppelkristall-Röntgendiffraktometrie

    Charakterisierung von epitaktisch auf InP abgeschiedenen GaxIn1-xAs-Schichten 0.45 x 0.49 Gax-In-x-As-Schichten x mittels Photolumineszenz und Doppelkristall-Röntgendiffraktometrie... von Goetz, Karl-Heinz 1954-

    Veröffentlicht 1984
    Abschlussarbeit Buch Fernleihe Bestellen


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    Charakterisierung von epitaktisch auf InP abgeschiedenen GaxIn1-xAs-Schichten (0.45...x...0.49) mittels Photolumineszenz und Doppelkritall-Röntgendiffraktometrie

    Charakterisierung von epitaktisch auf InP abgeschiedenen GaxIn1-xAs-Schichten (0.45...x...0.49) mittels Photolumineszenz und Doppelkritall-Röntgendiffraktometrie von Goetz, Karl-Heinz 1954-

    Veröffentlicht 1984
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Charakterisierung von epitaktisch auf InP abgeschiedenen GaInAs-Schichten mittels Photolumineszenz und Doppelkristall-Röntgendiffraktometrie

    Charakterisierung von epitaktisch auf InP abgeschiedenen GaInAs-Schichten mittels Photolumineszenz und Doppelkristall-Röntgendiffraktometrie von Goetz, Karl-Heinz 1954-

    Veröffentlicht 1984
    Buch Fernleihe Bestellen


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