Verfügbarkeit: Elektronenspektroskopische Untersuchungen an isolierenden Schichten auf W(110), Al(111) und Si(100)

Elektronenspektroskopische Untersuchungen an isolierenden Schichten auf W(110), Al(111) und Si(100):

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Günster, Jens (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Clausthal-Zellerfeld Papierflieger 1996
Ausgabe:	1. Aufl.
Schlagworte:	Dünne Schicht Wolfram Nichtleiter Elektronenspektroskopie Kristallfläche Silicium Aluminium Hochschulschrift
Beschreibung:	Zugl.: Clausthal, Techn. Univ., Diss., 1995
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ISBN:	3931443620

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