Fault-detection experiments for sequential machines:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Farmer, Daniel E. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 1970
Schlagworte:
Beschreibung:Brooklyn, NY, Univ., Diss., 1970. -Kopie, erschienen im Verl. Univ. Microfilms Internat., Ann Arbor, Mich.
Beschreibung:87 Bl. graph. Darst.

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