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Nanotechnologie und Nanoprozesse Einführung, Bewertung von Fahrner, Wolfgang R.
Veröffentlicht 2003Signatur: Wird geladen …Volltext öffnen
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Effects of radiation on MOS structures and silicon devices von Bräunig, Dieter, Fahrner, Wolfgang R.
Veröffentlicht 1983Signatur: Wird geladen …
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[Kumulative Habilitationsschrift] von Fahrner, Wolfgang R.
Veröffentlicht 1981Signatur: Wird geladen …
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Si, SiO 2, intrinsic states and interface charges von Fahrner, Wolfgang R., Klausmann, E., Bräunig, Dietrich
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Si-SiO 2 intrinsic states and interface charges von Fahrner, Wolfgang R., Klausmann, E., Bräunig, D.
Veröffentlicht 1987Signatur: Wird geladen …
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Si-SiO 2 intrinsic states and interface charges von Fahrner, Wolfgang R., Klausmann, E., Bräunig, D.
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7
Si/Si=2 intrinsic states and interface charges ; chapter II: the measurement methods von Fahrner, Wolfgang R., Klausmann, E., Bräunig, D.
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8
Si/Si=2 intrinsic states and interface charges ; chapter II: the measurement methods von Fahrner, Wolfgang R., Klausmann, E., Bräunig, D.
Veröffentlicht 1987Signatur: Wird geladen …
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9
Si, SiO 2, intrinsic states and interface charges von Fahrner, Wolfgang R., Klausmann, E., Bräunig, Dietrich
Veröffentlicht 1984Signatur: Wird geladen …
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