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    Porous semiconductors optical properties and applications

    Porous semiconductors optical properties and applications von Kochergin, Vladimir 1975-, Föll, Helmut 1949-

    Veröffentlicht 2009
    Inhaltsverzeichnis
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Spectroscopic study of the TiNi-System in the soft X-ray region

    Spectroscopic study of the TiNi-System in the soft X-ray region von Föll, Helmut 1949-

    Veröffentlicht 1977
    Abschlussarbeit Buch Fernleihe Bestellen


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    Agglomerate atomarer Fehlstellen in Silizium Swirl-Defekte u. Strahlenschädigung; e. Unters. mit Hilfe d. Hochspannungselektronenmikroskopie

    Agglomerate atomarer Fehlstellen in Silizium Swirl-Defekte u. Strahlenschädigung; e. Unters. mit Hilfe d. Hochspannungselektronenmikroskopie von Föll, Helmut 1949-

    Veröffentlicht 1976
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Spectroscopic study of the TiNi-system in the soft X-ray region

    Spectroscopic study of the TiNi-system in the soft X-ray region von Föll, Helmut 1949-

    Veröffentlicht 1976
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Agglomerate atomarer Fehlstellen in Silizium Swirl-Defekte u. Strahlenschädigung; eine Untersuchung mit Hilfe d. Hochspannungselektronenmikroskopie

    Agglomerate atomarer Fehlstellen in Silizium Swirl-Defekte u. Strahlenschädigung; eine Untersuchung mit Hilfe d. Hochspannungselektronenmikroskopie von Föll, Helmut 1949-

    Veröffentlicht 1976
    Abschlussarbeit Buch Fernleihe Bestellen


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