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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS von Grasserbauer, Manfred 1945-, Dudek, Hans-Joachim, Ebel, Maria F.
Veröffentlicht 1986Signatur: Wird geladen …Inhaltsverzeichnis
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2
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS 29 Tabellen von Grasserbauer, Manfred 1945-, Dudek, Hans Joachim, Ebel, Maria F.
Veröffentlicht 1986Signatur: Wird geladen …
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3
Effect an Tafelglas und Messing durch fokussierte Elektronenstrahlen von Dudek, Hans Joachim
Veröffentlicht 1970Signatur: Wird geladen …
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4
Einfluß des Ausscheidungszustandes auf die Ermüdungsbruchfläche bei der Legierung AIZnMgCu 1.5 von Dudek, Hans-Joachim
Veröffentlicht 1973Signatur: Wird geladen …
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