Ein paralleles Verfahren zur automatischen Testmustergenerierung für integrierte Schaltungen:
Gespeichert in:
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| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Sankt Augustin
GMD-Forschungszentrum Informationstechnik
1996
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| Schriftenreihe: | GMD-Forschungszentrum Informationstechnik <Sankt Augustin>: GMD-Studien
308 |
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| Beschreibung: | Zugl.: Bonn, Univ., Diplomarbeit, 1996 |
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