Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie SIMS in der Oberflächenanalyse:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Bunau, Günther von 1548-1595 (VerfasserIn), Klöppel, Klaus-Dieter (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Opladen Westdt. Verl. 1981
Schriftenreihe:Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen 3049
Schlagworte:
Beschreibung:23 S. graph. Darst.
ISBN:3531030493

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