Lock-in thermography basics and use for evaluating electronic devices and materials von Breitenstein, Otwin, Warta, Wilhelm, Langenkamp, Martin

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Lock-in Thermography Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components von Breitenstein, Otwin, Langenkamp, Martin

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Lock-in thermography basics and use for evaluating electronic devices and materials von Breitenstein, Otwin, Warta, Wilhelm, Schubert, Martin

Lock-in Thermography Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials von Breitenstein, Otwin, Warta, Wilhelm, Schubert, Martin C.

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Lock-in thermography basics and use for evaluating electronic devices and materials von Breitenstein, Otwin, Warta, Wilhelm, Langenkamp, Martin

Inhaltsverzeichnis

Entwicklung und Einsatz der rasterelektronenmikroskopischen Transient- spektroskopie (Scanning-DLTS) zur Untersuchung von Punktdefekt-Inhomo- genitäten in Halbleitern von Breitenstein, Otwin

Lock-in thermography basics and use for functional diagnostics of electronic components von Breitenstein, Otwin, Langenkamp, Martin

Inhaltsverzeichnis

Einsatz und Erweiterung der Deep Level Transient Spectroscopy (DLTS) bei der Untersuchung von Faktoren, die die Effizienz von GaP:N-Lumineszenzdioden beeinflussen von Breitenstein, Otwin