Treffer 1 – 3 von 3 für Suche 'Bowen, David Keith 1940-', Suchdauer: 0,02s Treffer filtern
Es werden neben Medien der THWS auch Medien von anderen bayerischen Bibliotheken angezeigt.
Diese sind über das Label „Fernleihe“ gekennzeichnet und können mit einem Klick darauf bestellt werden.
  1. 1
    X-ray metrology in semiconductor manufacturing

    X-ray metrology in semiconductor manufacturing von Bowen, David Keith 1940-

    Veröffentlicht 2006
    Buch Fernleihe Bestellen


    Gespeichert in:
  2. 2
    High resolution x-ray diffractometry and topography

    High resolution x-ray diffractometry and topography von Bowen, David Keith 1940-, Tanner, Brian K.

    Veröffentlicht 1998
    Inhaltsverzeichnis
    Buch Fernleihe Bestellen


    Gespeichert in:
  3. 3
    Characterization of crystal growth defects by X-Ray methods proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Models, held August 29 - September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom

    Characterization of crystal growth defects by X-Ray methods proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Models, held Aug...

    Veröffentlicht 1980
    Weitere Verfasser:
    Volltext öffnen
    Elektronisch Tagungsbericht E-Book Fernleihe Bestellen


    Gespeichert in:

Suchwerkzeuge: