Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Girard, Patrick (HerausgeberIn), Blanton, Shawn (HerausgeberIn), Wang, Li-C (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham Springer International Publishing 2023
Cham Springer
Ausgabe:1st ed. 2023
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
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Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XI, 316 p. 165 illus)
ISBN:9783031196393
DOI:10.1007/978-3-031-19639-3