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Thin film analysis by X-ray scattering techniques for structural characterization von Birkholz, Mario
Veröffentlicht 2006Signatur: Wird geladen …
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Zur Struktur des Schwefeldefizits in Eisenpyrit von Birkholz, Mario
Veröffentlicht 1990Signatur: Wird geladen …
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Thin film analysis by X-ray scattering von Birkholz, Mario
Veröffentlicht 2006Signatur: Wird geladen …Inhaltsverzeichnis
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Atomic puzzle Growth-structure-property relations in thin solid films for advanced technology applications von Birkholz, Mario
Veröffentlicht 2006Signatur: Wird geladen …
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Zur Struktur des Schwefeldefizits in Eisenpyrit von Birkholz, Mario
Veröffentlicht 1990Signatur: Wird geladen …
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Thin film analysis by X-ray scattering von Birkholz, Mario
Veröffentlicht 2006Signatur: Wird geladen …Volltext öffnen
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Zur Struktur des Schwefeldefizits in Eisenpyrit von Birkholz, Mario
Veröffentlicht 1990Signatur: Wird geladen …
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Zur Struktur des Schwefeldefizits in Eisenpyrit von Birkholz, Mario
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