Alfred Benninghoven
Alfred Benninghoven (* 8. Februar 1932 in Frankfurt am Main; † 22. Dezember 2017) war ein deutscher Physiker. Veröffentlicht in Wikipedia
Treffer 1 – 19 von 19 für Suche 'Benninghoven, Alfred', Suchdauer: 0,08s
Treffer filtern
Es werden neben Medien der THWS auch Medien von anderen bayerischen Bibliotheken angezeigt.
Diese sind über das Label „Fernleihe“ gekennzeichnet und können mit einem Klick darauf bestellt werden.
Diese sind über das Label „Fernleihe“ gekennzeichnet und können mit einem Klick darauf bestellt werden.
-
1
Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle von Benninghoven, Alfred, Wiedmann, Lothar
Veröffentlicht 1978Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
2
Über das Verhalten von Alkalidämpfen im Höchstvakuum von Benninghoven, Alfred
Veröffentlicht 1961Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
3
Secondary ion mass spectrometry basic concepts, instrumental aspects, applications and trends von Benninghoven, Alfred, Rüdenauer, F. G., Werner, H. W.
Veröffentlicht 1987Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
4
Secondary ion mass spectrometry basic concepts, instrumental aspects, applications and trends von Benninghoven, Alfred, Rüdenauer, Friedrich G., Werner, H. W.
Veröffentlicht 1987Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
5
Ion Formation from Organic Solids Proceedings of the Second International Conference Münster, Fed. Rep. of Germany September 7–9, 1982 von Benninghoven, Alfred
Veröffentlicht 1983Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen …
Volltext öffnenWird geladen …Volltext öffnen
-
6
Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle von Benninghoven, Alfred, Wiedmann, Lothar
Veröffentlicht 1978Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
7
Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle von Benninghoven, Alfred
Veröffentlicht 1978Signatur: Wird geladen …Volltext öffnen
Standort: Wird geladen …
-
8
Secondary ion mass spectrometry SIMS IV ; proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13 - 19, 1983
Veröffentlicht 1984Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
9
Secondary ion mass spectrometry SIMS III ; proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30 - September 5, 1981
Veröffentlicht 1982Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
10
Secondary ion mass spectrometry proceedings of the Seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry(SIMS VII), Monterey, California, USA, September 3 - 8, 1989
Veröffentlicht 1990Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
11
Secondary ion mass spectrometry SIMS V ; proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30 - October 4, 1985
Veröffentlicht 1986Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
12
Secondary ion mass spectrometry SIMS II ; proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II), Stanford University, Stanford, California...
Veröffentlicht 1979Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
13
Secondary ion mass spectrometry SIMS VIII ; proceedings of the eighth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, International Congress Centre RAI, Amsterdam, The...
Veröffentlicht 1992Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
14
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS VII proceedings of the Seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS VII), Hyatt Regency Hotel, Monterey, Californi...
Veröffentlicht 1990Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
15
Secondary ion mass spectrometry proceedings of the Sixth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry(SIMS VI), Versailles, Paris, France, September 13 - 18th, 1987
Veröffentlicht 1988Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
16
Ion formation from organic solids mass spectrometry of involatile material ; proceedings of the 3. international conference, Münster, Federal Republic of Germany, September 16 - 18...
Veröffentlicht 1986Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
17
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS III Proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30-September 5, 1981
Veröffentlicht 1982Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
18
Secondary ion mass spectrometry SIMS II Proceedings of the second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II), Stanford University, Ca., USA, August 27-31...
Veröffentlicht 1979Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
Signatur: Wird geladen …
Standort: Wird geladen … -
19
Ion formation from organic solids IFOS III ; mass spectrometry of involatile material ; proceedings of the 3. International Conference, Münster, Fed. Republic of Germany, September...
Veröffentlicht 1986Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred 1932- …”
Signatur: Wird geladen …Volltext öffnen
Standort: Wird geladen …