Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Zimpeck, Alexandra (VerfasserIn), Meinhardt, Cristina (VerfasserIn), Artola, Laurent (VerfasserIn), Reis, Ricardo (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham Springer International Publishing 2021
Cham Springer
Ausgabe:1st ed. 2021
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
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Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XIII, 131 p. 89 illus., 86 illus. in color)
ISBN:9783030683689
DOI:10.1007/978-3-030-68368-9