Precision landmark location for machine vision and photogrammetry: finding and achieving the maximum possible accuracy
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Gutierrez, José A. (VerfasserIn), Armstrong, Brian S. R. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: London Springer 2008
Schlagworte:
Beschreibung:XI, 162 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:1846289122
9781846289125

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