International Symposium on Electron Microscopy: Beijing, China October 22 - 23, 1990
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Electron Microscopy Peking (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Singapore u.a. World Scientific 1991
Schlagworte:
Beschreibung:XII, 478 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:9810205317

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!